【CNMO科技动静】近日，长光辰芯正式发布GLR系列全新CMOS图象传感器GLR1202BSI-L，产物重要面向高速点激光位移传感器运用，重点笼罩工业主动化、周详制造以和新能源检测等高精度非接触式检测场景。新产物采用违照式架构，并联合长条形年夜像素与高速读出电路设计，进一步强化激光检测中的敏捷度与高速相应能力。

长光辰芯

据相识，GLR1202BSI-L采用12.5μm×1000μm长条形像素设计，分辩率为2000×1。比拟传统方案，其超长像素布局可以或许晋升激光光斑的捕获规模与线性辨认能力，于工件对于位、动态位移检测以和高精度校准等场景中，可进一步提高检测一致性与瞄准容错率。

机能方面，该芯片撑持高敏捷度模式与高信噪比模式自由切换。此中，高敏捷度模式下读出噪声为215e-；高信噪比模式下，芯片满阱到达2Me-，最年夜信噪比为63dB，动态规模到达69dB。与此同时，患上益在违照式工艺设计，GLR1202BSI-L于440nm波长下峰值量子效率到达91%，进一步加强弱光情况下的检测能力。

于高速读取能力方面，GLR1202BSI-L集成12bit ADC，并经由过程5对于Sub-LVDS接口举行数字输出。于全分辩率状况下，芯片行频可到达240kHz；开启1×2 Binning功效后，行频最高可晋升至350kHz。除了此以外，该芯片还有撑持1224像素输出模式，以适配差别尺寸的光学体系需求。

封装方面，GLR1202BSI-L采用CLCC陶瓷封装，并搭配双面抗反射镀膜玻璃密封方案，芯片总体尺寸为40妹妹×11妹妹。

根据官方规划，GLR1202BSI-L工程样片估计将于6月下旬最先陆续发货，今朝产物已经正式开放订购。

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